高頻介電常數(shù)測試儀用于測試電工材料的介電系數(shù)和損耗角正切值,也用來測試高頻阻抗元器件（電感、電容和其他諧振組件）的品質(zhì)因數(shù)即:Q值。相對(duì)阻抗電橋法,高頻震蕩法的測試結(jié)果更真實(shí)地反映了材料器件在高頻工作狀態(tài)下的特性。
本儀器的測試回路可用被測元件L、主調(diào)諧電容C、回路的損耗電阻R構(gòu)成的串聯(lián)電路來等效，當(dāng)測試回路諧振時(shí)（高頻信號(hào)源輸入信號(hào)的頻率為諧振頻率w0），主調(diào)電容上的電壓是信號(hào)源輸入電壓的Q倍，或Q=w0L/R=1/w0CR，顯然信號(hào)源頻率w0的穩(wěn)定度和精度、主調(diào)電容C的精度和分辨率、測試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質(zhì)。模擬式的信號(hào)源穩(wěn)定性差，主調(diào)電容的分辨率和讀數(shù)精度低，使用復(fù)雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。
WGJSTD-B傳承第一代WGJSTD-A數(shù)碼化、人性化設(shè)計(jì)理念，采用數(shù)字化主調(diào)電容、LCD大屏幕液晶顯示全參數(shù)、DDS直接數(shù)字合成信號(hào)源三項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)，使WGJSTD-B的技術(shù)性能、使用功能大為提升,徹底改變了老款面板上印制的二組輔助表格計(jì)算LCQ的落后狀況，WGJSTD-B讀數(shù)清晰,無須換算，操作簡便，特別適合電子元器件的質(zhì)量分析、品質(zhì)控制、科研生產(chǎn),也可用于高等院校的材料科學(xué)、電子信息、電子通信、等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器。
| 信號(hào)源頻率范圍 | 10KHz-60MHzDDS數(shù)字合成 | Q測量范圍 | 1-1000，自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
| 信號(hào)源頻率覆蓋比 | 6000?:1 | Q分辨率 | 4位有效數(shù)，分辨率0.1 |
| 信號(hào)源頻率精度 | 1×106±1個(gè)字，6位有效數(shù) | Q測量工作誤差 | 5% |
| 電感測量范圍 | 20nH-2H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH | 調(diào)諧電容 | 主電容?30-500PF，微調(diào)電容?±3PF |
| 電感測量誤差 | 5% | 調(diào)諧電容誤差/分辨率 | 1%,0.1pf |
| 標(biāo)準(zhǔn)測試頻點(diǎn) | 全波段任意頻率下均可測試 | Q合格預(yù)置范圍 | 1-1000聲光提示 |
| 諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 | Q量程切換 | 自動(dòng)/手動(dòng) |
| 諧振指針 | LCD數(shù)碼顯示 | LCD顯示參數(shù) | w0、L、C、Q、諧振指針、波段等 |